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CST-50型衝擊試樣（yàng）缺口投影儀，設備是我（wǒ）公司根據目前國內廣大用戶的實際需求和GB/T229-94《金屬夏比缺口衝（chōng）擊試驗方法》中對衝擊試樣缺口的要求而設計、開（kāi）發的一種專用於檢查夏比（bǐ）V型和U型衝擊試樣缺口加工質量的專用光學儀（yí）器。
CST-50型衝擊（jī）試樣缺（quē）口（kǒu）投影儀，設備是我公（gōng）司根據目前國內廣大用戶（hù）的實際需求和GB/T229-94《金屬夏比缺口衝擊試驗（yàn）方法》中對衝擊試樣缺口的要求而設計、開（kāi）發的一種專（zhuān）用於檢查夏比V型和（hé）U型衝擊試樣缺口加工質量（liàng）的專（zhuān）用光學儀器（qì），CST-50型衝擊試樣（yàng）缺口投影儀是利用光學投影方法將被測（cè）的衝擊試樣V型和U型缺口標準樣（yàng）板圖對比，以確定被檢測的衝擊試樣（yàng）缺口加工（gōng）是否合（hé）格，其優點是操作簡便，檢查對比直觀，效率高。
對於夏比V型缺口衝擊試驗，由於試樣V型缺口要求嚴格（試（shì）樣缺口（kǒu）深2mm、呈45º角且（qiě）試樣缺口尖端要求R0.25±0.25），故（gù）在整個試驗過（guò）程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關鍵問題，如果試樣缺口的加工質量不合格，那麽其試驗的（de）結果是不可信的，特（tè）別是R0.25mm缺口尖端的微小（xiǎo）變化（其公差帶隻有（yǒu）0.25mm）都會引起試驗結果的（de）陡跳，尤其是在試驗的臨（lín）界值時會引起產品報廢或合格兩（liǎng）種截然相反的結果。為保證加工出（chū）的夏比V型缺口合（hé）格，對缺（quē）口（kǒu）的加工質量檢（jiǎn）驗是一（yī）個重要的質量控製手段。
產品參數：
1、投影屏直（zhí）徑：180
2、工作台尺寸：方工作台：110×125，圓工作台：∮90，工作台（tái）玻璃直徑：∮70
3、工作台行程：縱（zòng）向：10mm 橫向:10mm 升降:12mm 工作台轉動（dòng）範圍：0～360º
4、儀器放大倍率：50×；物鏡放大（dà）倍率：2.5×投影物鏡放大倍（bèi）率，20×；光（guāng）源（鹵鎢（wū）燈）；12V/100W
5、電源：220V/50Hz；
6、重量:約18kg
7、外型尺寸：515×224×603mm
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